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日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀-成都藤田科技提供 產品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的*功能 無復雜設定，操作簡單，短時...

日本Otsuka大塚ZETA分子量ELSZ-2000ZS測儀-成都藤田科技提供 產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備 測量項目...

日本Otsuka大塚OPTM series顯微分光膜厚儀-成都藤田科技提供 MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

日本Otsuka大塚MINUK光波動場三次元顯微鏡-成都藤田科技提供 MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。

日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家-成都藤田科技提供 側重便攜性與快速篩查，適用于常規單層膜厚測量，但精度與功能擴展性不及OPTM系列。 OPTM適用于研發（R&D）與高精度QC，如半導體晶圓、光學濾光片；Smart膜厚儀更適合產線快速抽檢