日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供

產(chǎn)品信息

• 量子效率（量子產(chǎn)率）可以瞬時測量

• 可以去除重新激發(fā)的熒光發(fā)射

• 集成半球單元實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)

• 使用低雜散光多通道分光光度探測器大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。

• 溫度控制功能 （50~300°C） 可實(shí)現(xiàn)與溫度相關(guān)的量子效率（量子產(chǎn)率）測量

• 兼容紫外到近紅外寬帶 （300~1600nm） 規(guī)格

• 使用專用軟件輕松作

• 易于安裝和拆卸樣品測量池

• 節(jié)省空間且設(shè)計(jì)緊湊

• 通過使用光譜儀型激發(fā)光源，可以選擇任意波長。

• 可以在軟件中激發(fā)波長和步長值的自動測量

• 與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容

• 廣泛的分析功能

• 量子效率（量子產(chǎn)率）測量

• 激發(fā)波長依賴性測量

• 發(fā)射光譜測量

• PL 激發(fā)光譜測量

• EEM（激發(fā)發(fā)射矩陣）測量

• 測量 LED 和有機(jī) EL 熒光粉的量子效率（量子產(chǎn)率）

• 測量薄膜狀樣品
  的透射熒光和反射熒光的量子效率（量子產(chǎn)率），例如用于遠(yuǎn)程熒光粉的熒光粉樣品

• 量子點(diǎn)、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量

• 染料敏化太陽能電池量子效率（量子產(chǎn)率）的測量

• 復(fù)雜化合物的測定

QE-2100 配備了一個積分半球。 與積分球（球形）相比，積分半球具有以下特點(diǎn)

• 由于非發(fā)光部件（支架等）可以暴露在外部，因此可以保持較小的自吸收，從而實(shí)現(xiàn)理想的光學(xué)系統(tǒng)

• 鏡子在同一點(diǎn)將照度加倍，從而實(shí)現(xiàn)高靈敏度測量。

• 樣品測量池易于安裝和拆卸，損壞積分球內(nèi)部的風(fēng)險(xiǎn)很小。

在包含重激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下，觀察的不是材料本身的物理性質(zhì)，而是器件的特性，無法確定真正的物理性質(zhì)值。 QE-2100 使用重激發(fā)熒光校正，利用積分半球的優(yōu)勢進(jìn)行簡單準(zhǔn)確的測量。

常規(guī)探測器（多色儀）在紫外區(qū)域檢測到高水平雜散光，因此不適合測量量子效率（量子產(chǎn)率）。 大冢電子通過開發(fā)一種去除雜散光的技術(shù)解決了這個問題。 QE-2100 中安裝的多通道分光光度探測器與我們的傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，雜散光量約為 1/5，即使在紫外線區(qū)域也能實(shí)現(xiàn)高精度測量。

日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供