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產品中心日本大塚Otsuka日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量
產品型號：
更新時間：2026-02-27
廠商性質：代理商
訪問量：336
服務熱線19938139269（馬經理）
產品分類
日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量-成都藤田科技提供
產品信息
特點
以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板上膜的薄膜解析等各類評價
通過自動對焦功能和自動繪素位置相結合，測量精度高，登陸recipe實現全自動檢查
測量項目
彩色濾光片評價 | 色測量（透過光譜測量） |
|---|---|
色度(XYZ，xy，Lab，L*a*b*,u'v'，u*v*) | |
色差，白平衡 | |
反射率測量 * | |
光學濃度（OD）測量 * | |
畫素幅測量 * | |
AF（自動對焦），結合自動繪素 * | |
膜厚評價 | 膜厚測量 |
膜物性解析（n:折射率，k：消減系數） |
*選配功能
測量對象
R, G, B, ITO, PI, PR, OC, BM
產品規格
型號 | LCF series |
|---|---|
樣品尺寸 | 50mm x 50mm ～* |
檢出器 | 分光光度計 ( MCPD檢出器 )，PMT （option） |
圖像處理 | CCD相機及monitor |
Stage及測量部支架 | X-Y-Zstage自動及手動（電動方式） |
* 也可用于大型玻璃基板（3000mm x 3000mm以上）
測量例
彩色濾光片R、G、B測量
核心特點：
微區測量能力：最小光斑直徑3μm，搭配自動XY平臺（200×200mm），實現晶圓、FPD（如OLED、ITO膜）等微小區域的精準厚度分布映射。
跨行業適用性：專為半導體（SiO?/SiN膜）、顯示面板（彩色光阻）、DLC涂層等行業設計，支持粗糙表面、傾斜結構及復雜光學異向性樣品的分析。
安全與擴展性：區域傳感器觸發防誤觸機制，獨立測量頭支持定制化嵌入，滿足在線檢測（inline）與實驗室研發需求。
日本Otsuka大塚LC Fseries彩色濾光片測量-成都藤田科技提供
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